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鞍山半导体检测显微镜系列

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鞍山半导体检测显微镜系列

  • 所属分类:鞍山工业显微镜

  • 点击次数:
  • 发布日期:2020/04/14
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详细介绍

产品特点:

● 此光学系统是作为测量检测半导体器件的显微镜的理想选择


● 支持激光波长(1064nm,532nm),可在半导体和液晶基板中使用薄膜激光切割技术。这就扩大了激光的适用范围


● 标准功能:亮视场和偏振观测


● 使用内置式转换器使得长工作距离物镜的操作很简单


● 极易操作的设计:采用正像光学系统(视场中的像和样品方向相同)并用橡胶把手加大微调手轮

工业显微镜

产品规格:

● 对焦


● 方法:有同心粗调和微调手轮(左和右)


● 三目镜筒图像:正像


● 调节范围:51-76mm


● 视场数:24


● 照明系统:亮视场反射照明(柯勒照明、带孔径光阑)


● 物镜(选件):M Plan Apo,M Plan Apo SL


本文网址:http://www.haorongx.com/product/832.html

关键词:显微镜,检测显微镜,半导体检测显微镜

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